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METTLER TOLEDO/梅特勒分析天平:精準(zhǔn)稱重的科學(xué)與藝術(shù)
更新時(shí)間:2025-12-01
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從微克到克,每一毫克的精確測(cè)量背后,都是科技與工藝的結(jié)合。
在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的精密世界中,精確稱量是實(shí)驗(yàn)成功和質(zhì)量控制的基石。梅特勒-托利多作為實(shí)驗(yàn)室稱重技術(shù)的,其分析天平產(chǎn)品融合了精密機(jī)械工程、傳感器技術(shù)和智能數(shù)字功能,成為眾多實(shí)驗(yàn)室的精密儀器。
分析天平是一種高精度測(cè)量?jī)x器,專門用來精確測(cè)定小量樣品的質(zhì)量。它廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究、分析化學(xué)以及品質(zhì)控制等領(lǐng)域,特別是在重量細(xì)微變化可能產(chǎn)生重大影響的情況下。
梅特勒-托利多的分析天平具有22至520克的量程,以及0.001至1毫克的讀值精度,非常適合用于密度測(cè)定、樣品準(zhǔn)備、差示稱重、配方設(shè)計(jì)及移液管校正等精密應(yīng)用。
現(xiàn)代分析天平不僅提供基本稱重功能,還配備各種智能特性,如內(nèi)部測(cè)試和調(diào)整、直觀的觸控屏幕操作、質(zhì)量保證和電動(dòng)門等,顯著提升了用戶體驗(yàn)和數(shù)據(jù)可靠性。
梅特勒-托利多分析天平的稱重原理基于電磁力補(bǔ)償技術(shù)。當(dāng)天平外殼內(nèi)的稱重傳感器檢測(cè)到放置在秤盤上的物體時(shí),會(huì)產(chǎn)生一個(gè)精確的抵消電磁力。
分析天平將這種補(bǔ)償電磁力的大小解釋為物體的重量,最終結(jié)果以適當(dāng)?shù)膯挝唬恕⒑量恕⑽⒖说龋╋@示在天平終端上。
對(duì)于分析實(shí)驗(yàn)室天平(可讀性為0.1毫克或更?。涑颖P通常放置在特制的防風(fēng)罩內(nèi),這種設(shè)計(jì)能保護(hù)樣品和容器免受氣流等外部環(huán)境因素的影響,從而提高整體稱重性能。
在精密稱重中,結(jié)果的準(zhǔn)確性至關(guān)重要,這種保護(hù)措施顯得尤為重要。
梅特勒-托利多提供了多種分析天平系列,每個(gè)系列針對(duì)不同的應(yīng)用需求和用戶偏好而設(shè)計(jì)。
XSE分析天平通過直觀操作實(shí)現(xiàn)可靠稱量,提供的稱量性能和質(zhì)量保證以及優(yōu)化的人體工程學(xué)設(shè)計(jì)。
該系列產(chǎn)品配備了創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈,可以免除用戶在稱量方面的擔(dān)憂。清晰可見的綠燈讓用戶知道何時(shí)開啟安全,所有的測(cè)試都始終保持完整,天平水平且功能正常。
XSE天平配備各種附件和多個(gè)連接選項(xiàng),適用于不同的稱量應(yīng)用。其獨(dú)特的網(wǎng)格秤盤和易巧稱量組件設(shè)計(jì),使清潔工作變得更加簡(jiǎn)便。
MS-TS分析天平量程為120g至320g,可讀性為0.1mg,可提供快速、精確與可靠的結(jié)果。
這一系列產(chǎn)品以便于清潔著稱,配備一個(gè)大觸摸屏,可使用戶更加舒適地執(zhí)行日常稱量工作。同時(shí),它能輕松地將結(jié)果傳輸?shù)饺魏涡枰牡胤健?/p>
ME104分析天平具有0.1 mg的可讀性和120g的大稱量值。它采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì),讓日常常規(guī)稱量輕松高效。
這些堅(jiān)固的通用型天平不僅在日常任務(wù)中支持直觀操作,并快速獲得結(jié)果,而且易于清潔,配有前置水平調(diào)節(jié)腳,僅需按動(dòng)一鍵就可以進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn)。
以下是梅特勒-托利多幾款代表性分析天平的技術(shù)參數(shù)比較:
| 產(chǎn)品型號(hào) | 大稱量值 | 可讀性 | 重復(fù)性 | 穩(wěn)定時(shí)間 |
|---|---|---|---|---|
| XSE205DU | 81.0 g / 220.0 g | 0.01 mg / 0.1 mg | 0.01 mg | 信息缺失 |
| XSE104 | 120.0 g | 0.1 mg | 0.04 mg | 信息缺失 |
| MS-TS | 120g至320g | 0.1 mg | 信息缺失 | 信息缺失 |
| ME104 | 120 g | 0.1 mg | 0.1 mg | 2s |
正確使用分析天平是獲得可靠結(jié)果的前提,以下是使用梅特勒-托利多分析天平的標(biāo)準(zhǔn)步驟和佳實(shí)踐:
稱重前,首先檢查天平是否水平。如果標(biāo)準(zhǔn)操作程序有此要求,可能需要進(jìn)行天平調(diào)整。
選擇合適的環(huán)境至關(guān)重要,分析天平是高度敏感的儀器,需要在人流量少的專用區(qū)域放置一個(gè)堅(jiān)固的石臺(tái),并確保環(huán)境無振動(dòng)、遠(yuǎn)離窗戶和陽光直射、遠(yuǎn)離氣流和空調(diào)以及電磁干擾。
將天平連接至電源后,打開天平并讓其適應(yīng)室內(nèi)溫度至少2小時(shí)后再使用。
開始稱重程序時(shí),首先按下歸零按鈕,這為用戶提供一個(gè)零點(diǎn)作為稱重過程的起點(diǎn)。
打開防風(fēng)罩門,將目標(biāo)容器(有時(shí)稱為皮重容器)放在秤盤上,必要時(shí)記得戴上手套或使用鑷子。
關(guān)閉防風(fēng)罩門并等待容器的重量值穩(wěn)定,皮重容器的重量現(xiàn)在顯示在顯示器上。
按下去皮按鈕,天平記錄皮重容器的重量,顯示器將再次顯示零。
開始添加樣品,直到達(dá)到所需的目標(biāo)重量。關(guān)閉防風(fēng)罩門,一旦天平穩(wěn)定,它將發(fā)布重量結(jié)果。
在進(jìn)行測(cè)量之前,必須對(duì)天平進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)天平包括將其測(cè)量結(jié)果與已知標(biāo)準(zhǔn)或參考砝碼進(jìn)行比較。
這有助于識(shí)別和糾正天平讀數(shù)中的任何誤差,從而確保結(jié)果準(zhǔn)確可靠。這可以由校準(zhǔn)技術(shù)人員使用專門的校準(zhǔn)砝碼來完成。
清潔分析天平對(duì)于使用者安全和避免影響結(jié)果準(zhǔn)確性的交叉污染非常重要。此外,妥善維護(hù)分析天平將延長(zhǎng)其使用壽命。
分析天平的秤盤、滴水盤、外殼和終端可以用紙巾清潔。分析天平可以使用市售的溫和清潔劑和清潔劑(例如70%乙醇或異丙醇)進(jìn)行清潔。但不得使用丙酮清潔分析天平,因?yàn)樗c塑料手柄、黏合部件和終端不相容。
如果標(biāo)準(zhǔn)操作程序中未指定,建議根據(jù)使用情況至少每周或每月清潔一次分析天平。在許多實(shí)驗(yàn)室中,建議每天檢查分析天平。如果稱量有毒樣品,則每次稱量后應(yīng)立即清潔分析天平。
梅特勒-托利多的所有分析天平型號(hào)都具有易于清潔的功能。MS分析天平通過QuickLock無需使用任何工具即可從分析天平外殼上完整、輕松地拆卸和組裝防風(fēng)罩。
在XPR分析天平上,易於拆卸的元件(例如滴水盤和所有防風(fēng)罩部件)簡(jiǎn)化了清潔工作,無需任何工具。
梅特勒-托利多分析天平提供多種數(shù)據(jù)管理解決方案,以滿足不同實(shí)驗(yàn)室的需求:
可以從分析天平手動(dòng)傳輸稱重結(jié)果到實(shí)驗(yàn)室日志和其他工具進(jìn)行計(jì)算或進(jìn)一步使用。
通過使用打印機(jī)和其他配件(如條形碼讀取器)可以增強(qiáng)手動(dòng)方法。
梅特勒-托利多分析天平可以通過USB和以太網(wǎng)等各種接口輕松連接到PC或其他分析儀器,以進(jìn)行數(shù)字化數(shù)據(jù)采集和存儲(chǔ)。
對(duì)于分析天平,它們可以將結(jié)果直接導(dǎo)入個(gè)人電腦,并可通過滴入光標(biāo)和兼容LabX™數(shù)據(jù)管理軟件實(shí)現(xiàn)優(yōu)化和數(shù)字化的工作流程。
LabX具有集中的儀器和任務(wù)控制、用戶指導(dǎo)和結(jié)果安全存儲(chǔ)功能,可提高效率、提供可追溯性并有助于滿足監(jiān)管要求。
分析天平通常簡(jiǎn)稱為"實(shí)驗(yàn)室天平",可以分析各種樣本。需要使用電子分析天平的客戶特定應(yīng)用包括:
樣品/標(biāo)準(zhǔn)品制備 - 在分析測(cè)試前準(zhǔn)備樣品和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
配方 - 精確配制各種化學(xué)制劑和藥品
差示稱重 - 測(cè)量樣品在不同條件下的重量變化
密度測(cè)定 - 通過測(cè)量固體和液體的密度來鑒定物質(zhì)
移液器常規(guī)測(cè)試 - 校準(zhǔn)和驗(yàn)證移液器的準(zhǔn)確性
元素分析 - 在化學(xué)分析中精確稱量樣品
分析天平用于各行業(yè)的普通實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)和品質(zhì)控制實(shí)驗(yàn)室,例如制藥和生物技術(shù)、化學(xué)品、食品、學(xué)術(shù)界、金屬和塑料等。
選擇合適的分析天平非常重要。準(zhǔn)確稱重不僅僅取決于天平顯示器上的數(shù)字。
只有了解您的制程風(fēng)險(xiǎn)、公差、所需品質(zhì)和相關(guān)法規(guī),才能選擇為您提供必要精度等級(jí)的天平。天平的性能必須滿足您的內(nèi)部精度要求以及任何外部法規(guī)。
您的分析天平必須適合其預(yù)期目的;否則,所有稱重結(jié)果以及使用這些稱重結(jié)果的任何后續(xù)處理將被視為無效。
梅特勒-托利多的免費(fèi)GWP®推薦服務(wù)旨在幫助用戶選擇適合特定制程和精度要求的儀器。它考慮以下關(guān)鍵因素:
大重量:稱重的大負(fù)載(包括去皮容器)
最小凈重:稱重的最小負(fù)載(不包括去皮容器)
稱量誤差:可接受的稱量誤差,以±百分比表示
安全系數(shù):此系數(shù)應(yīng)用于天平最小重量,以補(bǔ)償外部影響,例如振動(dòng)、氣流、不同的操作員等。
分析天平技術(shù)持續(xù)演進(jìn),梅特勒-托利多始終走在創(chuàng)新前沿。未來的發(fā)展趨勢(shì)主要集中在以下幾個(gè)方向:
現(xiàn)代分析天平越來越注重智能化功能,例如梅特勒-托利多的XPR分析天平具有StaticDetect™功能,可自動(dòng)評(píng)估由于樣品和容器上的靜電荷而導(dǎo)致的稱重誤差,并在誤差超出預(yù)定義限值時(shí)發(fā)出警告。
XPR分析天平還可以輕松升級(jí)以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)粉末和液體分配,大大提高了實(shí)驗(yàn)室的工作效率。
隨著制藥和生物技術(shù)行業(yè)對(duì)數(shù)據(jù)完整性要求的提高,現(xiàn)代分析天平提供了更強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能。
LabX™實(shí)驗(yàn)室軟件提供的數(shù)據(jù)管理和結(jié)果分析功能,是集中管理數(shù)據(jù)、任務(wù)、儀器和用戶的強(qiáng)大解決方案。
LabX還有助于符合美國(guó)聯(lián)邦法規(guī)第21卷第11部分和ALCOA+數(shù)據(jù)完整性要求。
新一代分析天平更加注重用戶體驗(yàn),例如XSE分析天平配備狀態(tài)指示燈在內(nèi)的新型彩色顯示屏,具有警告功能,使操作更加直觀便捷。
MS-TS分析天平則配備大觸摸屏,可使用戶更加舒適地執(zhí)行日常稱量工作。
從大學(xué)實(shí)驗(yàn)室的基礎(chǔ)研究到制藥企業(yè)的質(zhì)量控制,從食品安全檢測(cè)到材料科學(xué)創(chuàng)新,梅特勒-托利多分析天平始終是科學(xué)界和工業(yè)界值得信賴的精密稱重伙伴。
正如一位長(zhǎng)期用戶所說:"在精密稱重的世界里,梅特勒-托利多不僅是工具,更是一位無聲的研究伙伴,它用精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)支撐著每一次科學(xué)的飛躍。"
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